一、主要原因

　　(一)發射電路部分

　　1.電源電壓E過低

　　2.閘流管或可控硅導電時，內阻太大。

　　3.觸發波重復頻率太高或閘流管的負載電阻R太大，使發射電路中電容C不能充電至電源電壓E。

　　4.電容C漏電 5.諧振式發射電路中，諧振頻率與探頭的自然頻率偏離太大。

　　(二)接收電路部分

　　1.電子管或晶體管衰老。

　　2.電子管或晶體管工作點(偏流或偏壓)不在最佳點。

　　3.電源電壓低(濾波電容漏電)

　　4.調諧回路調亂，放大頻率與發射頻率不一致。

　　(三)宇時先鋒超聲波探傷儀探頭部分

　　1.晶片的靈敏度低(發射及接收的靈敏度的乘積低)。

　　2.晶片的自然頻率與發射頻率或放大頻率不一致。

　　3.晶片的銀層脫落

　　4.保護膜片磨損。

　　5.保護膜片與晶片之間的油層流失(有的探頭保護膜與晶片直接粘合)。

　　6.吸收塊阻尼太大。

　　7.晶片的阻抗與探頭引線的阻抗不匹配(如用低阻抗的電纜線連接高阻抗的石英晶片)。

　　8.探頭在超過其居里溫度的高溫工作物上探測效率低。

　　9.探頭線及插座頭接觸不良。

　　(四)示波管部分

　　1.偏轉靈敏度低。

　　2.加速極電壓過高。

　　二、檢查方法

　　(一)檢查發射電路

　　1.用萬用表測量超聲波測厚儀電源電壓是否過低

　　2.用萬用表測量閘流管(可控硅)的屏(陽)極電壓的平均值是否偏高或偏低

　　3.檢查電容C是否漏電

　　4.用脈沖示波器(或用外差式波長計)測量發射波的頻率是否符合。用試塊檢查時，將探頭放在試塊上，是熒光屏上有反射波，調整發射電路中線圈L的鐵心，是反射波最高

　　(二)檢查接收電路

　　1.測量各級電壓是否正常。

　　2.檢查調諧頻率及放大倍數，有以下幾種方法：

　　(1)將高頻信號發生器的輸出端接在接收電路的輸入端，將電壓表接在檢波電路的輸出端，改變高頻信號發生器的頻率(輸出電壓不變)，記下電壓表的數值。電壓最大時的頻率應與發射頻率符合，并記下放大倍數。如頻率偏離過大，則需調整探傷儀各級線圈。

　　(2)將探頭放在試塊上，使熒光屏上有反射波，用示波器觀察各級屏極(或集電極)的波形是否一級比一級大(從前級往后級)，如有一級波形不夠大，說明該級有問題。

　　(3)放大電路如系單調諧，將探頭放在試塊上，調各級線圈的鐵心，使反射波最高。

　　3.檢查電子或晶體管是否衰老。

　　4.調整工作點(電子管的陰極電阻、晶體管的射極電阻及基極分壓電阻)。

　　5.檢查調諧線圈是否霉斷。

　　(三)檢查探頭部分

　　1.首先用良好的探頭探測，如宇時先鋒超聲波探傷儀靈敏度提高了，說明原探頭有問題，需換新。

　　2.如晶片退化，可重新電極化，有的儀器有極化插座，將探頭插在插座上，開機通電十分鐘即可。如無極化插座，在探傷儀內部示波管的高壓回路中，引出適當電壓即可。鈦酸鋇的極化電壓為每毫米2000伏，鋯鈦酸鉛為每毫米4000伏。晶片初次極化時，將晶片夾在夾具中，滄州歐譜并侵入盛有變壓器油的容器中，并將容器放在電爐上，加溫至居里溫度(鈦酸鋇120℃，鋯鈦酸鉛300℃)后接通電壓，20分鐘后切斷電爐電源，使變壓器油自然冷卻至室溫時，將高壓關掉即可。

　　3.晶片的壓電性能可用簡單的方法檢查，即用高靈敏度的電子管電壓表檢查，將地線一端壓在晶片的一端，將表棒稍用力壓晶片的另一端，看電壓表指針的偏轉是否大，如不偏轉或偏轉甚小，則壓電性能不好。

　　(四)檢查示波管部分

　　1.檢查示波管的偏轉靈敏度 將電壓表跨接于垂直偏轉板，正表棒接示波管的第7腳，負表棒接第8腳，開機后記下掃描線在熒光屏上的位置，并記下電壓表的數值，然后調節儀器面板上的垂直位移電位器W，使掃描線向上，移動A毫米，若此時電壓表指示電壓的變化為B伏特，則偏轉靈敏度=A/B 毫米/伏 正常偏轉靈敏度為0.35~0.54毫米/伏，若所得之值比正常值小的多，則應換新管。

　　2.檢查加速極電壓 示波管的偏轉靈敏度與加速極電壓成反比，若加速極電壓過高，應減低之。