測(cè)量分析和結(jié)果

首先測(cè)量時(shí)要考慮到被測(cè)工件的厚度、材料和幾何形狀等多種因素，選擇適合測(cè)量的儀器和探頭，這是檢測(cè)過(guò)程中至關(guān)重要的第一步。我們考慮到這個(gè)樣件尺寸較小，應(yīng)選擇測(cè)量面小的探頭。我們使用宇時(shí)先鋒超聲波測(cè)厚儀PM5 Gen2選用筆式延遲線探頭進(jìn)行測(cè)量是非常適合的，但是由于筆式探頭尖窄的延遲塊端部很難使探頭保持與被測(cè)材料表面垂直狀態(tài)，會(huì)導(dǎo)致回波信號(hào)小，甚至沒(méi)有回波。這時(shí)配合使用測(cè)試支架進(jìn)行測(cè)試，其尖窄的延遲塊端部可以將探頭耦合到尺寸非常小的測(cè)量面上，測(cè)量更穩(wěn)定，回波清晰，測(cè)值正確。

半導(dǎo)體材料被廣泛應(yīng)用到各個(gè)領(lǐng)域中，如果您想了解有關(guān)使用超聲波技術(shù)測(cè)量半導(dǎo)體材料厚度的方法，或在測(cè)量應(yīng)用中遇到問(wèn)題，可以聯(lián)系我們郵寄樣件測(cè)試，我們將為您提供解決方案。